明天结婚。是阿里巴巴集团同事的集体婚礼。
和老婆风风雨雨一路走来。大学最后一年相识，毕业后，她在青岛，我在北京。她抛弃很好的工作背景，杀到北京，在北京生活三年，又和我一起来到杭州发展。感激老婆，每次虽然面对的不是什么大决择，也需要很大的勇气，想起来多不容易。这期间尤其令我感到内疚的是在北京期间老婆压力过大导致生病，深深自责。
不管怎么样，祝福我们吧! 我先祝福一下 :)
冯大辉(David Feng)
大学的专业是生物技术，毕业后从事计算机行业。
在 IT 行业的这几年基本上是做 Oracle 数据库相关的技术工作，对 Oracle 数据库的管理与性能优化有一点研究，有点实践经验，乐于分享技术经验，是一名 Oracle ACE (bio,中文介绍)。我的技术背景包括:
Oracle RDBMS
Unix / Linux
Web / Security
曾经参与编辑两本 Oracle 的技术图书:
《Oracle数据库性能优化》
《Oracle数据库DBA专题技术精粹》
此外曾参与翻译过三本计算机图书。
现就职于阿里巴巴集团旗下支付宝(中国)网络技术有限公司。任职数据库架构师 。
这个站点是我实验 Web 技术与知识积累的场所，秉承"最简约的技术取得最大的收益"的理念，希望也能对其他人有点用。如您所知，本人发布的文章与评论内容仅代表本人观点。一般在网上我用 "Fenng" 这个ID 进行技术交流。
我是东北人，现在生活在杭州。养了两只猫. 喜欢 The Cure 的音乐.
可以通过网络电话或者电子邮件和我联系: dbanotes@gmail.com
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不管怎么样，祝福我们吧! 我先祝福一下 :)
冯大辉(David Feng)
大学的专业是生物技术，毕业后从事计算机行业。
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教导主任抓住一帮子学生抽烟，不承认，于是找他们谈话。
“抽烟吗？”“不抽。”“那吃根薯条吧！”很顺手的做夹香烟状，被逮进去痛骂。
第二个，“抽烟吗？”“不抽。”“那吃根薯条吧！”，很恭敬的接过来，“蘸点番茄酱吧！”，做弹烟灰状，又被痛骂。
第三个，“抽烟吗？”“不抽。”“那吃根薯条吧！”，也很恭敬的接过来，小心翼翼蘸好酱吃了，“给你同学带一根吧！”，很顺势夹在耳后，又露馅了。
第四个，“抽烟吗？”“不抽。”“那吃根薯条吧！”，也很恭敬的接过来，小心翼翼蘸好酱，刚要吃，教导主任突然叫到“校长来了！”，学生急忙把薯条扔在地上，踩在脚底还拧几下，又被训斥。
第五个，“抽烟吗？”“不抽。”“那吃根薯条吧！”，也很恭敬的接过来，小心翼翼蘸好酱，教导主任又叫到“校长来了！”，不慌不忙道“还没点火呢！”，自然结果也不太好。
第六个，“吃薯条吗？”“不会，谢谢”……
“抽烟吗？”“不抽。”“那吃根薯条吧！”很顺手的做夹香烟状，被逮进去痛骂。
第二个，“抽烟吗？”“不抽。”“那吃根薯条吧！”，很恭敬的接过来，“蘸点番茄酱吧！”，做弹烟灰状，又被痛骂。
第三个，“抽烟吗？”“不抽。”“那吃根薯条吧！”，也很恭敬的接过来，小心翼翼蘸好酱吃了，“给你同学带一根吧！”，很顺势夹在耳后，又露馅了。
第四个，“抽烟吗？”“不抽。”“那吃根薯条吧！”，也很恭敬的接过来，小心翼翼蘸好酱，刚要吃，教导主任突然叫到“校长来了！”，学生急忙把薯条扔在地上，踩在脚底还拧几下，又被训斥。
第五个，“抽烟吗？”“不抽。”“那吃根薯条吧！”，也很恭敬的接过来，小心翼翼蘸好酱，教导主任又叫到“校长来了！”，不慌不忙道“还没点火呢！”，自然结果也不太好。
第六个，“吃薯条吗？”“不会，谢谢”……
http://news.qq.com/a/20080512/002651.htm
中国地震局刚刚发布公告：北京时间08年05月12日14点30分左右北京局部地区发生2级轻微地震，另警告在08年05月12日晚上22点至24点时间段北京局部地区还会有2-6级地震，望大家提前做预防措施！ （中国地震局）
http://news.sina.com.cn/c/2008-05-12/153715522678.shtml
中国地震局刚刚发布公告：北京时间08年05月12日14点30分左右北京局部地区发生2级轻微地震，另警告在08年05月12日晚上22点至24点时间段北京局部地区还会有2-6级地震，望大家提前做预防措施！ （中国地震局）
http://news.sina.com.cn/c/2008-05-12/153715522678.shtml
CCTV.com消息(15点新闻)：来自国家地震局的最新消息，今天14点28分，四川汶川县发生7.6级地震，具体位置在成都附近温江西北55公里(北纬31度，东经103。4度)。而我们刚刚从各种渠道得到消息，重庆、湖南、湖北、山西、陕西、河北、北京等地都有震感。
有关地震的最新消息，我们将随时为您进行报道。
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有女朋友的男生的特点,看看你是不是也是这种。
一、穷
我想这已经是共识，没钱？那就别想谈女朋友了，别再幻想着什么纯洁无暇爱情了，都是扯淡。当你憋着小嘴愤愤不平的拿这个诅咒分手女友的无情的时候，那只能说明你无能懦夫懒惰加上小人，离开你是明智选择。给你个富婆说不定你绝情的嘴脸比谁都更丑陋。所以，男人，想讨老婆就赚钱吧不管你混B社会杀人放火贩毒contraband只要你能弄到票子女人就多得让你眼花了。
二、丑
经典语句，长得丑不是你的错，出来吓人就是你不对了，如果你敢说一句外表不是主要的，心灵美才是重要的，打住，那我就给你一头猪一样的恐龙做老婆我看你什么反映，己所不欲勿施与人，当你做着癞蛤蟆想吃天鹅肉的美梦时，女孩还在走着灰姑娘的神呢。
三、薄
这个薄是脸皮薄的意思，如果你文质彬彬，甚至会害羞，傻傻的，你如果不是内心真有点城府的话，那看来你跟异性也是绝缘了，别想着八十年代电影里女孩说傻的可爱了，时代不同了，并且进步太快了。如果你能达到不要脸的流氓地步，也是泡妞的最高境界了。
四、专
这里指的是在一棵树上吊死，如果你是个痴情专一的汉字，对一个MM渴望用坚持和痴情来感动，我想你离沉重打击不远了，现在的MM才不喜欢你用情专一呢，如果你能到处沾花惹草正说明你的本事，MM虽然会幽怨，其实底子里才更看得起你呢。保证你召之即来，挥之即去。
五、笨
这里的笨是指嘴笨，不需要你多厉害的口才，但是甜言蜜语是要会说的，哪怕你心里想着另一个MM，口里把对这个MM的感情换个名字说给那个听也行，爱的肉麻。
六、真
其实和五差不多，就是太真诚了，MM是要来骗和哄的，你傻傻的都说实话掏老底，嘿嘿，那你也等着MM和你拜拜吧！
七、小
此小非彼小，嘿嘿，是胆小，好像和三类似，但也不是，只要有机会，能拉手早拉手，拉了手了要赶快亲，亲完了赶快找地上床，不要觉得太快了，现在是个效率的社会，你不快有人比你快，也别担心MM会觉得你轻浮，她比你还急呢。不信?等上了床你就知道了。
八、跑
专指看贴不回贴就跑了的人,这类也是找不到女朋友的,自己掂量吧！
一、穷
我想这已经是共识，没钱？那就别想谈女朋友了，别再幻想着什么纯洁无暇爱情了，都是扯淡。当你憋着小嘴愤愤不平的拿这个诅咒分手女友的无情的时候，那只能说明你无能懦夫懒惰加上小人，离开你是明智选择。给你个富婆说不定你绝情的嘴脸比谁都更丑陋。所以，男人，想讨老婆就赚钱吧不管你混B社会杀人放火贩毒contraband只要你能弄到票子女人就多得让你眼花了。
二、丑
经典语句，长得丑不是你的错，出来吓人就是你不对了，如果你敢说一句外表不是主要的，心灵美才是重要的，打住，那我就给你一头猪一样的恐龙做老婆我看你什么反映，己所不欲勿施与人，当你做着癞蛤蟆想吃天鹅肉的美梦时，女孩还在走着灰姑娘的神呢。
三、薄
这个薄是脸皮薄的意思，如果你文质彬彬，甚至会害羞，傻傻的，你如果不是内心真有点城府的话，那看来你跟异性也是绝缘了，别想着八十年代电影里女孩说傻的可爱了，时代不同了，并且进步太快了。如果你能达到不要脸的流氓地步，也是泡妞的最高境界了。
四、专
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五、笨
这里的笨是指嘴笨，不需要你多厉害的口才，但是甜言蜜语是要会说的，哪怕你心里想着另一个MM，口里把对这个MM的感情换个名字说给那个听也行，爱的肉麻。
六、真
其实和五差不多，就是太真诚了，MM是要来骗和哄的，你傻傻的都说实话掏老底，嘿嘿，那你也等着MM和你拜拜吧！
七、小
此小非彼小，嘿嘿，是胆小，好像和三类似，但也不是，只要有机会，能拉手早拉手，拉了手了要赶快亲，亲完了赶快找地上床，不要觉得太快了，现在是个效率的社会，你不快有人比你快，也别担心MM会觉得你轻浮，她比你还急呢。不信?等上了床你就知道了。
八、跑
专指看贴不回贴就跑了的人,这类也是找不到女朋友的,自己掂量吧！
http://www.thss.tsinghua.edu.cn/faculty_xiangd_cn.asp
向东 教授
清华大学 教授 博士生导师
电子邮件： dxiang@tsinghua.edu.cn
办公电话： 86-10-62795434
主要经历：
于1987及1990年毕业于重庆大学获计算机科学学士学位及硕士学位。
1993年于中国科学院计算技术研究所获得计算机工程博士学位。
1994-1995为加拿大，Concordia大学电子工程系博士后，
1995-1996为美国Illinois大学，Urbana Champaign, 电子工程系(Coordinated Science Lab.)博士后。
1996.10 -2003.3为清华大学，微电子学研究所副教授。
2003.3-2004.12为清华大学软件学院副教授。
2003.4-2003.9为日本奈良先端科大JSPS研究员。
现为清华大学软件学院教授， 博士生导师。
研究领域：
数字系统测试与设计：可测试性设计，可测试性分析，低成本测试，自测试，测试码产生；容错计算，并行/分布式计算，计算机网络通讯
主要奖励：
2003: JSPS fellowship;
2004: 国家杰出青年基金；
2004：IEEE Senior Member。
获得专利
1.向东，孙家广，降低非扫描可测试性设计管脚开销的方法，国家发明专利，专利号：ZL 02 1 46776.5, 2004.12。
2．D. Xiang, J. Sun, M. Chen, and S. Gu, Cost-Effective Scan Architecture and a Test Application Scheme, US Patent US 6,959,426 B2, Oct. 25, 2005.
3．向东，孙家广,李开伟， A New Test Point Architecture for High-Quality Testability Design, US Patent,US 7,051,302 B2 , May 23, 2006.
4．向东，孙家广,李开伟, 基于扫描森林的扫描测试方法, 国家发明专利，ZL02159931.9， (2006.8)。
另有三项国家发明专利获批。申请了10余国家发明专利，及三项美国国际发明专利。
目前开设课程
1．分布式系统 （着重介绍互连网络高性能，无死锁及容错通讯，教材,J. Duato, L. Ni, S. Yalamanchili, Interconnection Networks: An Engineering Approach, IEEE Press, 1997, 及2002版本， 每年秋季）。
主要在研项目：
1．采用新的扫描链构造技术提高BIST的测试效率，国家自然科学基金（负责人，2004.1-2006.12）。
2．数字系统可测试性设计理论研究， 国家杰出青年基金（负责人，2005.1- 2008.12）。
3．基于路由技术多计算机网络的容错组播及广播, 国家自然科学基金（负责人，2006.1-2008.12）。
4．大规模自组织无线网络低功耗，高可靠性路由技术, 国家863 探索导向类项目 (负责人, 2007.1-2009.12).
专业任职：
期刊杂志：
IEEE Senior Member, IEEE Trans. Computers, IEEE Trans. Computer-Aided Design, IEEE Trans. Parallel and Distributed Systems, J. of Parallel and Distributed Computing,IEEE Trans. VLSI Systems, IEEE Trans. Reliability, IEEE Int. Test Conference, ACM/IEEE Design Automation Conference, Int. Conf. on Parallel Processing, IEE Proc. Part E, Inform. Sci.等杂志及会议评审人；《中国科学》等审稿人.
会议：
[1] 12th , 14th , 16th, 17th IEEE Asian Test Symposium(2008) 程序委员会委员；
[2] 11th , 12th , 13th, 14th IEEE Pacific Rim Dependable Computing Conf.(2008), 程序委员会委员；
[3] 28th IEEE Int. Conference on Distributed Computing Systems，2008, 程序委员会委员；
[4] 19th IEEE Int. Conference on Computer Communications and Networks, 2008, 程序委员会委员；
[5] 8th Int. Conf. on Young Computer Scientists, 2008, 程序委员会委员；
[6] Int. Conf. on Algorithms and Architectures for Parallel Processing, 2008, 程序委员会委员；
[7] 10th IEEE Int. Conf. on High-Performance Computing and Communication, 2008, 程序委员会委员。
[8] 19th IEEE Asian Test Symp.(2010), 15th IEEE Pacific Rim Dependable Computing Symposium(2009), 程序委员会主席。
[9] Int. Conf. on Reliability and Safety Engineering2005 and INCRESE2006， 及INCRESE2007 指导委员会委员；
[10] IEEE Int. Workshop on RTL and High- Level Testing指导委员会委员;
A keynote address at INCRESE2005(India)。
有代表性的论著：
非扫描可测试性设计：
[1] D. Xiang, Y. Xu, and H. Fujiwara, “Non-scan design for testability for synchronous sequential circuits based on conflict resolution,” IEEE Trans. on Computers, vol. 52, no. 8, pp. 1063-1075, 2003.
[2] D. Xiang and H. Fujiwara, “Handling the pin overhead problem for high quality and at-speed test,” IEEE Trans. on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, vol. 21, no. 9, pp. 1105-1113, 2002.
[3] D. Xiang and Y. Xu, “Cost-effective non-scan design for testability for synchronous sequential circuits,” Proc. of 19th? IEEE Int. Conference on Computer Design, pp.154-159 , Austin, USA, Sept, 2001.
[4] D. Xiang and Y. Xu, “Partial reset for synchronous sequential circuits using almost independent reset signals,” Proc. of 19th? IEEE VLSI Test Symposium, pp.82-87, Los Angels, April, 2001.
[5] D. Xiang, S. Gu, and H. Fujiwara, “Non-scan design for testability based on fault-oriented conflict analysis,”? Proc. of? 11th? IEEE Asian Test Symposium, Guam, USA, Nov., 2002.
[6] D. Xiang, S. Gu, and H. Fujiwara, “Non-scan design for testability for? mixed RTL circuits with both data paths and controller via conflict analysis,” Proc. of 12th IEEE Asian Test Symposium, pp. 300-303, 2003.
[7] D. Xiang, S. Gu, and H. Fujiwara, “Non-scan design for testability for synchronous sequential circuits based on fault-oriented conflict analysis,” IEICE Trans. on Information and Systems, vol.E86-D, pp. 2407-2417, Nov., 2003.
低成本扫描测试：
[8] D. Xiang, S. Gu, J. Sun, and D. Wu, “Cost-effective scan design with non-scan test application cost and test power,” in Proc. of ACM/IEEE Design Automation Conference, pp. 744-747, June, Anaheim, 2003.
[9] D. Xiang, K. Li, and H. Fujiwara, “Design for scan testing with low test application cost and low test data volume by reconstructing scan flip-flops,”? in Proc. of 14th IEEE Asian Test Symposium, pp. 318-321, Dec., 2005.
[10] D. Xiang, K. Li, and H. Fujiwara, “Localizing test power consumption for scan testing,” in Proc. of 6th IEEE Int. Workshop on RTL and High Level Testing, pp. 18-23, 2005.
[11] D. Xiang and K. Li, “Low Power Scan testing using a two-stage scan architecture,”? Chinese Journal of Computers, pp. 786-791, no. 5, 2006 (in Chinese).
[12] K. Li and D. Xiang, “Scan testing with low power, test application time and reduced test data volume,” Journal of Tsinghua University, pp. 98-101, no. 1, 2006(in Chinese).
[13] D. Xiang, K. Li, J. Sun, and H. Fujiwara, “Reconfigured scan forest for test application cost, test data volume and test power reduction,” IEEE Trans. on Computers, vol. 56, no. 4, pp. 557-562, April 2007.
[14] D. Xiang, K. Li, H. Fujiwara, K. Thulasiraman, and J. Sun, “Constraining transition propagation for low power scan testing using a two-stage scan architecture,” ?IEEE Trans. Circuits and Systems-II, vol. 54, no. 5, pp. 450-454, May 2007.
[15] Q. Xu, D. Hu, and D. Xiang, “Pattern-directed circuit partitioning for test power reduction,” accepted to appear in Proc. of IEEE Int. Test Conference, Santa Clara, Oct. 2007.
部分扫描设计
[16] D. Xiang and J.H.Patel, “Partial scan design based on valid state information and functional information,” IEEE Trans. on Computers, vol.53, no.3, pp.276-287, 2004.
[17] D. Xiang and Y. Xu, “A multiple phase partial scan design method,” Proc. of 10th??IEEE Asian Test Symposium, Kyoto, pp.17-22, Nov., 2001.
[18]D. Xiang and J. Patel, “A global algorithm for the partial scan design problem using circuit state information,” in ?Proc. of IEEE Int. Test Conference, pp. 548-557, Nov., 1996.
自测试
[19] D. Xiang, M. J. Chen, J. G. Sun, and H. Fujiwara, “Improving the effectiveness of scan-based BIST using scan chain partitioning,” IEEE Trans. on Computer-Aided Design, vol. 24, no. 6, pp.916-927, 2005.
[20] D. Xiang, M. J. Chen, J. Sun, and H. Fujiwara, “Improving test quality of scan-based BIST by scan chain partitioning,” Proc. of 12th IEEE Asian Test Symposium, pp.12-17, 2003.
[21] D. Xiang, M. Chen, K. Li, and D. Wu, “Scan-based BIST using an improved scan forest architecture,” ?in Proc. of ?13th IEEE Asian Test Symposium, pp. 88-93, Nov., 2004.
[22] D. Xiang, D. Z. Wei, and S. S. Chen, “A global test point placement algorithm for combinational circuits,” Proc. of 5th? IEEE Int. Conf. on VLSI Design, pp. 227-232, 1992.
[23] D. Xiang and D. Z. Wei, “Global: A design for random testability algorithm,” J. of Computer Science and Technology, vol. 9, no. 2, pp. 182-192, 1994.
[24] D. Xiang, D. Z. Wei, and S. S. Chen, “Probabilistic models for estimation of random and pseudorandom test length,” J. of Computer Science and Technology, vol. 7, no.2, pp. 164-174, 1992.
[25] D.Xiang,“Knowledge-based design for testability,”ActaElectronica Sinica, vol. 19, no. 3,pp. 106-109, 1991(in Chinese).
[26] D. Xiang, M. Chen, and H. Fujiwara, “Using weighted scan enable signals to improve test effectiveness of scan-based BIST,”? in? Proc. 14th IEEE Asian Test Symposium, pp. 126-131, Dec., 2005.
[27] D. Xiang, Y. Zhao, K. Chakrabarty, J. Sun, and H. Fujiwara, “Compressing test data for deterministic BIST using a reconfigurable scan architecture,” in ?Proc. of 15th IEEE Asian Test Symposium, Japan, pp.299-304, Nov., 2006.
[28] D. Xiang, M. Chen, and J. Sun, “Using weighted scan enable signals to improve the test effectiveness of scan-based BIST,” Science in China, vol. 36, no. 8, pp. 902-911, 2006 (in Chinese).
[29] D. Xiang, M. Chen, and J. Sun, “Improving test effectiveness of scan-based BIST by using weighted scan enable signals,” accepted to appear in Science in China (English version), 2006.
[30] D. Xiang, M. J. Chen, and H. Fujiwara,“Using weighted scan enable signals to improve test effectiveness of scan-based BIST,”accepted to appear in IEEE Trans. On Computers, 2007.
[31] D. Xiang, Y. Zhao, K. Chakrabarty, and H. Fujiwara, “A reconfigurable scan architecture with weighted scan enable signals for deterministic BIST,” accepted to appear in IEEE Trans. on Coputer-Aided Design, 2008.
可测试性分析
[32] D. Xiang, Y. Xu, and H. Fujiwara, “Non-scan design for testability for synchronous sequential circuits based on conflict analysis,” Proc. of IEEE Int. Test Conference, Atlantic City, pp. 420-429, Oct., 2000.
[33] D. Xiang, S. Venkataraman, K. Fuchs, and J. Patel, “Partial scan design based on circuit state information,” Proc. 33th?? of ACM/IEEE Design Automation Conference, pp. 807-8l2, Las Vegas, l996.
[34] D. Xiang, “SCTM: A conflict oriented testability measure,” Chinese Journal of Computers, vol. 16,? no. 4,? pp. 273-280, 1993 (in Chinese).
[35] D. Xiang and D. Z. Wei,? “On functional circuit testability analysis,”? Chinese Journal of Computers,? vol. 16, no. 1, pp. 35-44, 1993 (in Chinese).
延迟测试
[36] D. Xiang, K. Li, H. Fujiwara, and J. Sun, “Generating compact robust and non-robust tests for complete coverage of path delay faults based on stuck-at tests,” in Proc. of 24th IEEE Int. Conference on Computer Design, pp. 446-451, 2006.
[37] D. Xiang, Y. Zhao, K. Li, and H. Fujiwara, “Fast and effective fault simulation for path delay faults based on selected testable paths,” accepted to appear in Proc. of IEEE Int. Test Conference, Santa Clara, Oct. 2007.
[38] D. Xiang, K. Chakrabarty, D. Hu, and H. Fujiwara, “Scan testing for complete coverage of path delay faults with reduced test data volume, test application time and hardware,” accepted to appear in Proc. of 16th IEEE Asian Test Symposium, Oct. 2007.
容错计算
[39] D. Xiang, “Fault-tolerant routing in hypercube multicomputers using local safety information,” IEEE Trans. on Parallel and Distributed Systems, vol. 12, no. 9, pp. 942-951, 2001.
[40] D. Xiang and A. Chen, “Reliable broadcasting in wormhole-routed? hypercube -connected networks using local safety information,”IEEE Trans. on Reliability, pp. 245-256, vol. 52, no. 2, June, 2003.
[41] D. Xiang, A. Chen, and J. Wu, “Fault-tolerant broadcasting for hypercubes? based on local safety information,” Proc. of 9th? IEEE Int. Conf. on Parallel and Distributed Systems,? pp. 31-36, Taiwan, Dec.,? 2002.
[42] D. Xiang and J. Wu, “Reliable multicasting for hypercube multicomputers using local safety information,” Proc. of? 13th? Int. Conf. on Parallel and Distributed Computing Systems, Las Vegas, Aug., pp. 529-534, 2000.
[43] D.Xiang, A.Chen, and J. Wu, “Local-safety-information-based broadcasting in hypercube multicomputers with node and link faults,” Int. Journal of Interconnection Networks, vol. 2,no. 3, World Scientific Publishers, pp. 365-378, 2001(invited? paper).
[44] D. Xiang and J. Wu, “Reliable unicasting in faulty hypercubes using local safety information,” Proc. of 4th? IEEE Int. Conf. on? Algorithms and Architectures for Parallel Processing,? Hong Kong,? Dec., 2000.
[45] D. Xiang, “Partial path set-up for fault-tolerant? routing in hypercube multicomputers,” Future Generation Computer Systems, vol. 22, pp. 812-819, Elsevier Scientific Press, Aug., 2006.
[46] D. Xiang, A. Chen, and J. Wu,“Local-safety-information-based ?fault-tolerant broadcasting in hypercubes,” J. of Inform. Sci. and Eng., vol. 19, no. 3, pp.467-478, June, 2003.
[47] D. Xiang and A. Chen, “Fault-tolerant routing in hypercubes based on partial path set-up, ” in Proc.of 2003 IEEE Int. Workshop on PMEO-PDS03 (with IPDPS03), IEEE Computer Society Press.
[48] D. Xiang,? A. Chen, and J. Sun,? “Fault-tolerant routing in 3D meshes/tori based on locally formed fault blocks,”? Chinese Journal of Computers,? vol. 27,? no. 5,? pp. 611-618, 2004 (in Chinese).
[49] D. Xiang, A. Chen, and J. G. Sun, “Fault-tolerant multicasting in hypercube multicomputers using local safety information,” Journal of Parallel and Distributed Computing, vol. 66, no. 2, ?pp. 248-256, 2006.
并行/分布式计算
[50] D. Xiang, Y. Zhang, Y. Pan, and J. Wu, “Deadlock-free adaptive routing in meshes based on cost-effective deadlock avoidance schemes,”accepted to appear in 36th IEEE Int. Conference on Parallel Processing, Sept. 2007.
[51] D. Xiang, A. Chen, and J. Sun, “Fault-tolerant routing and multicasting for hypercube multicomputers based on partial path set-up,”? Parallel Computing, Elsevier Science Press, vol.31, no. 1,? pp. 389-411, 2005.
[52] D. Xiang, J. Sun, J. Wu, and K. Thulasiraman, “Fault-tolerant routing in meshes /tori using planarly constructed fault blocks,”? in Proc. of 34th IEEE Int Conference on Parallel Processing, pp. 577-584, Oslo, Norway, 2005.
[53] D. Xiang and A. Chen, “Fault-tolerant routing in 2D meshes/tori using limited -global-safety information,” Proc. of 31th? IEEE Int. Conf. on Parallel Processing, pp. 231-238,? Vancouver, Aug.,? 2002.
[54] 向东，张跃鲤，mesh网高效无死锁路由算法，《计算机学报》，vol. 30, no. 11, pp. 1954-1963, 2007.
[55] Z. Li , Y. Zhao, Y. Cui, and D. Xiang, “A density adaptive routing protocol for large-scale Ad hoc networks,” accepted to appear in Proc. of IEEE Wireless Communications and Networking Conference, 2008.
[56] D. Xiang, Y. Pan, Q. Wang, and Z. Chen, “Deadlock-free fully adaptive routing in 2-dimensional tori based on a new virtual network partitioning scheme,” accepted to appear in Proc. of 28th IEEE Int. Conference on Distributed Computing Systems, 2008.
向东 教授
清华大学 教授 博士生导师
电子邮件： dxiang@tsinghua.edu.cn
办公电话： 86-10-62795434
主要经历：
于1987及1990年毕业于重庆大学获计算机科学学士学位及硕士学位。
1993年于中国科学院计算技术研究所获得计算机工程博士学位。
1994-1995为加拿大，Concordia大学电子工程系博士后，
1995-1996为美国Illinois大学，Urbana Champaign, 电子工程系(Coordinated Science Lab.)博士后。
1996.10 -2003.3为清华大学，微电子学研究所副教授。
2003.3-2004.12为清华大学软件学院副教授。
2003.4-2003.9为日本奈良先端科大JSPS研究员。
现为清华大学软件学院教授， 博士生导师。
研究领域：
数字系统测试与设计：可测试性设计，可测试性分析，低成本测试，自测试，测试码产生；容错计算，并行/分布式计算，计算机网络通讯
主要奖励：
2003: JSPS fellowship;
2004: 国家杰出青年基金；
2004：IEEE Senior Member。
获得专利
1.向东，孙家广，降低非扫描可测试性设计管脚开销的方法，国家发明专利，专利号：ZL 02 1 46776.5, 2004.12。
2．D. Xiang, J. Sun, M. Chen, and S. Gu, Cost-Effective Scan Architecture and a Test Application Scheme, US Patent US 6,959,426 B2, Oct. 25, 2005.
3．向东，孙家广,李开伟， A New Test Point Architecture for High-Quality Testability Design, US Patent,US 7,051,302 B2 , May 23, 2006.
4．向东，孙家广,李开伟, 基于扫描森林的扫描测试方法, 国家发明专利，ZL02159931.9， (2006.8)。
另有三项国家发明专利获批。申请了10余国家发明专利，及三项美国国际发明专利。
目前开设课程
1．分布式系统 （着重介绍互连网络高性能，无死锁及容错通讯，教材,J. Duato, L. Ni, S. Yalamanchili, Interconnection Networks: An Engineering Approach, IEEE Press, 1997, 及2002版本， 每年秋季）。
主要在研项目：
1．采用新的扫描链构造技术提高BIST的测试效率，国家自然科学基金（负责人，2004.1-2006.12）。
2．数字系统可测试性设计理论研究， 国家杰出青年基金（负责人，2005.1- 2008.12）。
3．基于路由技术多计算机网络的容错组播及广播, 国家自然科学基金（负责人，2006.1-2008.12）。
4．大规模自组织无线网络低功耗，高可靠性路由技术, 国家863 探索导向类项目 (负责人, 2007.1-2009.12).
专业任职：
期刊杂志：
IEEE Senior Member, IEEE Trans. Computers, IEEE Trans. Computer-Aided Design, IEEE Trans. Parallel and Distributed Systems, J. of Parallel and Distributed Computing,IEEE Trans. VLSI Systems, IEEE Trans. Reliability, IEEE Int. Test Conference, ACM/IEEE Design Automation Conference, Int. Conf. on Parallel Processing, IEE Proc. Part E, Inform. Sci.等杂志及会议评审人；《中国科学》等审稿人.
会议：
[1] 12th , 14th , 16th, 17th IEEE Asian Test Symposium(2008) 程序委员会委员；
[2] 11th , 12th , 13th, 14th IEEE Pacific Rim Dependable Computing Conf.(2008), 程序委员会委员；
[3] 28th IEEE Int. Conference on Distributed Computing Systems，2008, 程序委员会委员；
[4] 19th IEEE Int. Conference on Computer Communications and Networks, 2008, 程序委员会委员；
[5] 8th Int. Conf. on Young Computer Scientists, 2008, 程序委员会委员；
[6] Int. Conf. on Algorithms and Architectures for Parallel Processing, 2008, 程序委员会委员；
[7] 10th IEEE Int. Conf. on High-Performance Computing and Communication, 2008, 程序委员会委员。
[8] 19th IEEE Asian Test Symp.(2010), 15th IEEE Pacific Rim Dependable Computing Symposium(2009), 程序委员会主席。
[9] Int. Conf. on Reliability and Safety Engineering2005 and INCRESE2006， 及INCRESE2007 指导委员会委员；
[10] IEEE Int. Workshop on RTL and High- Level Testing指导委员会委员;
A keynote address at INCRESE2005(India)。
有代表性的论著：
非扫描可测试性设计：
[1] D. Xiang, Y. Xu, and H. Fujiwara, “Non-scan design for testability for synchronous sequential circuits based on conflict resolution,” IEEE Trans. on Computers, vol. 52, no. 8, pp. 1063-1075, 2003.
[2] D. Xiang and H. Fujiwara, “Handling the pin overhead problem for high quality and at-speed test,” IEEE Trans. on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, vol. 21, no. 9, pp. 1105-1113, 2002.
[3] D. Xiang and Y. Xu, “Cost-effective non-scan design for testability for synchronous sequential circuits,” Proc. of 19th? IEEE Int. Conference on Computer Design, pp.154-159 , Austin, USA, Sept, 2001.
[4] D. Xiang and Y. Xu, “Partial reset for synchronous sequential circuits using almost independent reset signals,” Proc. of 19th? IEEE VLSI Test Symposium, pp.82-87, Los Angels, April, 2001.
[5] D. Xiang, S. Gu, and H. Fujiwara, “Non-scan design for testability based on fault-oriented conflict analysis,”? Proc. of? 11th? IEEE Asian Test Symposium, Guam, USA, Nov., 2002.
[6] D. Xiang, S. Gu, and H. Fujiwara, “Non-scan design for testability for? mixed RTL circuits with both data paths and controller via conflict analysis,” Proc. of 12th IEEE Asian Test Symposium, pp. 300-303, 2003.
[7] D. Xiang, S. Gu, and H. Fujiwara, “Non-scan design for testability for synchronous sequential circuits based on fault-oriented conflict analysis,” IEICE Trans. on Information and Systems, vol.E86-D, pp. 2407-2417, Nov., 2003.
低成本扫描测试：
[8] D. Xiang, S. Gu, J. Sun, and D. Wu, “Cost-effective scan design with non-scan test application cost and test power,” in Proc. of ACM/IEEE Design Automation Conference, pp. 744-747, June, Anaheim, 2003.
[9] D. Xiang, K. Li, and H. Fujiwara, “Design for scan testing with low test application cost and low test data volume by reconstructing scan flip-flops,”? in Proc. of 14th IEEE Asian Test Symposium, pp. 318-321, Dec., 2005.
[10] D. Xiang, K. Li, and H. Fujiwara, “Localizing test power consumption for scan testing,” in Proc. of 6th IEEE Int. Workshop on RTL and High Level Testing, pp. 18-23, 2005.
[11] D. Xiang and K. Li, “Low Power Scan testing using a two-stage scan architecture,”? Chinese Journal of Computers, pp. 786-791, no. 5, 2006 (in Chinese).
[12] K. Li and D. Xiang, “Scan testing with low power, test application time and reduced test data volume,” Journal of Tsinghua University, pp. 98-101, no. 1, 2006(in Chinese).
[13] D. Xiang, K. Li, J. Sun, and H. Fujiwara, “Reconfigured scan forest for test application cost, test data volume and test power reduction,” IEEE Trans. on Computers, vol. 56, no. 4, pp. 557-562, April 2007.
[14] D. Xiang, K. Li, H. Fujiwara, K. Thulasiraman, and J. Sun, “Constraining transition propagation for low power scan testing using a two-stage scan architecture,” ?IEEE Trans. Circuits and Systems-II, vol. 54, no. 5, pp. 450-454, May 2007.
[15] Q. Xu, D. Hu, and D. Xiang, “Pattern-directed circuit partitioning for test power reduction,” accepted to appear in Proc. of IEEE Int. Test Conference, Santa Clara, Oct. 2007.
部分扫描设计
[16] D. Xiang and J.H.Patel, “Partial scan design based on valid state information and functional information,” IEEE Trans. on Computers, vol.53, no.3, pp.276-287, 2004.
[17] D. Xiang and Y. Xu, “A multiple phase partial scan design method,” Proc. of 10th??IEEE Asian Test Symposium, Kyoto, pp.17-22, Nov., 2001.
[18]D. Xiang and J. Patel, “A global algorithm for the partial scan design problem using circuit state information,” in ?Proc. of IEEE Int. Test Conference, pp. 548-557, Nov., 1996.
自测试
[19] D. Xiang, M. J. Chen, J. G. Sun, and H. Fujiwara, “Improving the effectiveness of scan-based BIST using scan chain partitioning,” IEEE Trans. on Computer-Aided Design, vol. 24, no. 6, pp.916-927, 2005.
[20] D. Xiang, M. J. Chen, J. Sun, and H. Fujiwara, “Improving test quality of scan-based BIST by scan chain partitioning,” Proc. of 12th IEEE Asian Test Symposium, pp.12-17, 2003.
[21] D. Xiang, M. Chen, K. Li, and D. Wu, “Scan-based BIST using an improved scan forest architecture,” ?in Proc. of ?13th IEEE Asian Test Symposium, pp. 88-93, Nov., 2004.
[22] D. Xiang, D. Z. Wei, and S. S. Chen, “A global test point placement algorithm for combinational circuits,” Proc. of 5th? IEEE Int. Conf. on VLSI Design, pp. 227-232, 1992.
[23] D. Xiang and D. Z. Wei, “Global: A design for random testability algorithm,” J. of Computer Science and Technology, vol. 9, no. 2, pp. 182-192, 1994.
[24] D. Xiang, D. Z. Wei, and S. S. Chen, “Probabilistic models for estimation of random and pseudorandom test length,” J. of Computer Science and Technology, vol. 7, no.2, pp. 164-174, 1992.
[25] D.Xiang,“Knowledge-based design for testability,”ActaElectronica Sinica, vol. 19, no. 3,pp. 106-109, 1991(in Chinese).
[26] D. Xiang, M. Chen, and H. Fujiwara, “Using weighted scan enable signals to improve test effectiveness of scan-based BIST,”? in? Proc. 14th IEEE Asian Test Symposium, pp. 126-131, Dec., 2005.
[27] D. Xiang, Y. Zhao, K. Chakrabarty, J. Sun, and H. Fujiwara, “Compressing test data for deterministic BIST using a reconfigurable scan architecture,” in ?Proc. of 15th IEEE Asian Test Symposium, Japan, pp.299-304, Nov., 2006.
[28] D. Xiang, M. Chen, and J. Sun, “Using weighted scan enable signals to improve the test effectiveness of scan-based BIST,” Science in China, vol. 36, no. 8, pp. 902-911, 2006 (in Chinese).
[29] D. Xiang, M. Chen, and J. Sun, “Improving test effectiveness of scan-based BIST by using weighted scan enable signals,” accepted to appear in Science in China (English version), 2006.
[30] D. Xiang, M. J. Chen, and H. Fujiwara,“Using weighted scan enable signals to improve test effectiveness of scan-based BIST,”accepted to appear in IEEE Trans. On Computers, 2007.
[31] D. Xiang, Y. Zhao, K. Chakrabarty, and H. Fujiwara, “A reconfigurable scan architecture with weighted scan enable signals for deterministic BIST,” accepted to appear in IEEE Trans. on Coputer-Aided Design, 2008.
可测试性分析
[32] D. Xiang, Y. Xu, and H. Fujiwara, “Non-scan design for testability for synchronous sequential circuits based on conflict analysis,” Proc. of IEEE Int. Test Conference, Atlantic City, pp. 420-429, Oct., 2000.
[33] D. Xiang, S. Venkataraman, K. Fuchs, and J. Patel, “Partial scan design based on circuit state information,” Proc. 33th?? of ACM/IEEE Design Automation Conference, pp. 807-8l2, Las Vegas, l996.
[34] D. Xiang, “SCTM: A conflict oriented testability measure,” Chinese Journal of Computers, vol. 16,? no. 4,? pp. 273-280, 1993 (in Chinese).
[35] D. Xiang and D. Z. Wei,? “On functional circuit testability analysis,”? Chinese Journal of Computers,? vol. 16, no. 1, pp. 35-44, 1993 (in Chinese).
延迟测试
[36] D. Xiang, K. Li, H. Fujiwara, and J. Sun, “Generating compact robust and non-robust tests for complete coverage of path delay faults based on stuck-at tests,” in Proc. of 24th IEEE Int. Conference on Computer Design, pp. 446-451, 2006.
[37] D. Xiang, Y. Zhao, K. Li, and H. Fujiwara, “Fast and effective fault simulation for path delay faults based on selected testable paths,” accepted to appear in Proc. of IEEE Int. Test Conference, Santa Clara, Oct. 2007.
[38] D. Xiang, K. Chakrabarty, D. Hu, and H. Fujiwara, “Scan testing for complete coverage of path delay faults with reduced test data volume, test application time and hardware,” accepted to appear in Proc. of 16th IEEE Asian Test Symposium, Oct. 2007.
容错计算
[39] D. Xiang, “Fault-tolerant routing in hypercube multicomputers using local safety information,” IEEE Trans. on Parallel and Distributed Systems, vol. 12, no. 9, pp. 942-951, 2001.
[40] D. Xiang and A. Chen, “Reliable broadcasting in wormhole-routed? hypercube -connected networks using local safety information,”IEEE Trans. on Reliability, pp. 245-256, vol. 52, no. 2, June, 2003.
[41] D. Xiang, A. Chen, and J. Wu, “Fault-tolerant broadcasting for hypercubes? based on local safety information,” Proc. of 9th? IEEE Int. Conf. on Parallel and Distributed Systems,? pp. 31-36, Taiwan, Dec.,? 2002.
[42] D. Xiang and J. Wu, “Reliable multicasting for hypercube multicomputers using local safety information,” Proc. of? 13th? Int. Conf. on Parallel and Distributed Computing Systems, Las Vegas, Aug., pp. 529-534, 2000.
[43] D.Xiang, A.Chen, and J. Wu, “Local-safety-information-based broadcasting in hypercube multicomputers with node and link faults,” Int. Journal of Interconnection Networks, vol. 2,no. 3, World Scientific Publishers, pp. 365-378, 2001(invited? paper).
[44] D. Xiang and J. Wu, “Reliable unicasting in faulty hypercubes using local safety information,” Proc. of 4th? IEEE Int. Conf. on? Algorithms and Architectures for Parallel Processing,? Hong Kong,? Dec., 2000.
[45] D. Xiang, “Partial path set-up for fault-tolerant? routing in hypercube multicomputers,” Future Generation Computer Systems, vol. 22, pp. 812-819, Elsevier Scientific Press, Aug., 2006.
[46] D. Xiang, A. Chen, and J. Wu,“Local-safety-information-based ?fault-tolerant broadcasting in hypercubes,” J. of Inform. Sci. and Eng., vol. 19, no. 3, pp.467-478, June, 2003.
[47] D. Xiang and A. Chen, “Fault-tolerant routing in hypercubes based on partial path set-up, ” in Proc.of 2003 IEEE Int. Workshop on PMEO-PDS03 (with IPDPS03), IEEE Computer Society Press.
[48] D. Xiang,? A. Chen, and J. Sun,? “Fault-tolerant routing in 3D meshes/tori based on locally formed fault blocks,”? Chinese Journal of Computers,? vol. 27,? no. 5,? pp. 611-618, 2004 (in Chinese).
[49] D. Xiang, A. Chen, and J. G. Sun, “Fault-tolerant multicasting in hypercube multicomputers using local safety information,” Journal of Parallel and Distributed Computing, vol. 66, no. 2, ?pp. 248-256, 2006.
并行/分布式计算
[50] D. Xiang, Y. Zhang, Y. Pan, and J. Wu, “Deadlock-free adaptive routing in meshes based on cost-effective deadlock avoidance schemes,”accepted to appear in 36th IEEE Int. Conference on Parallel Processing, Sept. 2007.
[51] D. Xiang, A. Chen, and J. Sun, “Fault-tolerant routing and multicasting for hypercube multicomputers based on partial path set-up,”? Parallel Computing, Elsevier Science Press, vol.31, no. 1,? pp. 389-411, 2005.
[52] D. Xiang, J. Sun, J. Wu, and K. Thulasiraman, “Fault-tolerant routing in meshes /tori using planarly constructed fault blocks,”? in Proc. of 34th IEEE Int Conference on Parallel Processing, pp. 577-584, Oslo, Norway, 2005.
[53] D. Xiang and A. Chen, “Fault-tolerant routing in 2D meshes/tori using limited -global-safety information,” Proc. of 31th? IEEE Int. Conf. on Parallel Processing, pp. 231-238,? Vancouver, Aug.,? 2002.
[54] 向东，张跃鲤，mesh网高效无死锁路由算法，《计算机学报》，vol. 30, no. 11, pp. 1954-1963, 2007.
[55] Z. Li , Y. Zhao, Y. Cui, and D. Xiang, “A density adaptive routing protocol for large-scale Ad hoc networks,” accepted to appear in Proc. of IEEE Wireless Communications and Networking Conference, 2008.
[56] D. Xiang, Y. Pan, Q. Wang, and Z. Chen, “Deadlock-free fully adaptive routing in 2-dimensional tori based on a new virtual network partitioning scheme,” accepted to appear in Proc. of 28th IEEE Int. Conference on Distributed Computing Systems, 2008.
以前很喜欢罗技的鼠标键盘，100块的套件就用的很舒服。
所以最近配的电脑都选了罗技，以前那种100快的套件没有了。就选了150块的光电高手 飞猎套装
回来用了几天，才发现这个套件真是垃圾
工程师聪明过了头，把insert键给去掉了，弄了个诺大的del键。我用vim粘贴剪贴板的内容都是用ctrl＋insert，现在全都要鼠标右键，简直郁闷死。键盘敲击起来也是非常的不爽，卡拉卡拉的响，手感也不好，据说玩跑跑卡丁车方向键还会冲突。
鼠标更是个垃圾，会自己漂移。换了好几块鼠标垫都是这样，妈的用SecureCRT 粘贴快捷键：ctrl+insert，没法用，一个垃圾，我们消费者可不管你们这样搞有什么用处，Delete键太大了不爽。。。。
但也有人如是说：
罗技的键盘少了一个键——Insert
我不知道这种的改变是何时发生的，但我相信这种细微的改变，反应出罗技了解到这样一个事实：Delete键上方的Insert已经开始令人讨厌了。
复习一下编辑功能键的作用
Insert 转换“插入”和“覆盖”模式。“插入模式”，普通编辑模式，输入的字符在光标位置处出现，并保留光标后的所有字符；“覆盖”模式，输入的字符在光标位置处出现，并依次替换光标后的字符
Delete 删除光标位置后的一个字符
Home 光标移动至当前行的开始
End 光标移动至当前行的结尾
PageUp 向上滚屏或翻页
PageDown 向下滚屏或翻页
使用频率最高的，应该是Delete。虽然对于很多用户来说，Home、 PageUp、PageDown在大多数情况下已经被鼠标代替，但对于搞文字、编程工作的人来说，它们在使用键盘的高速输入/编辑状态中还是不可替代的。惟独Insert，除了让人在无意中丢失输入文字，以及在少数游戏中充当默认功能键之外，恐怕就一无是处了。
去除Insert，也许是一件小事。对很多用户来说，甚至永远无法体会其中的价值。但是，这种着眼于细微处的改革精神，却是十分值得提倡的。
所以最近配的电脑都选了罗技，以前那种100快的套件没有了。就选了150块的光电高手 飞猎套装
回来用了几天，才发现这个套件真是垃圾
工程师聪明过了头，把insert键给去掉了，弄了个诺大的del键。我用vim粘贴剪贴板的内容都是用ctrl＋insert，现在全都要鼠标右键，简直郁闷死。键盘敲击起来也是非常的不爽，卡拉卡拉的响，手感也不好，据说玩跑跑卡丁车方向键还会冲突。
鼠标更是个垃圾，会自己漂移。换了好几块鼠标垫都是这样，妈的用SecureCRT 粘贴快捷键：ctrl+insert，没法用，一个垃圾，我们消费者可不管你们这样搞有什么用处，Delete键太大了不爽。。。。
但也有人如是说：
罗技的键盘少了一个键——Insert
我不知道这种的改变是何时发生的，但我相信这种细微的改变，反应出罗技了解到这样一个事实：Delete键上方的Insert已经开始令人讨厌了。
复习一下编辑功能键的作用
Insert 转换“插入”和“覆盖”模式。“插入模式”，普通编辑模式，输入的字符在光标位置处出现，并保留光标后的所有字符；“覆盖”模式，输入的字符在光标位置处出现，并依次替换光标后的字符
Delete 删除光标位置后的一个字符
Home 光标移动至当前行的开始
End 光标移动至当前行的结尾
PageUp 向上滚屏或翻页
PageDown 向下滚屏或翻页
使用频率最高的，应该是Delete。虽然对于很多用户来说，Home、 PageUp、PageDown在大多数情况下已经被鼠标代替，但对于搞文字、编程工作的人来说，它们在使用键盘的高速输入/编辑状态中还是不可替代的。惟独Insert，除了让人在无意中丢失输入文字，以及在少数游戏中充当默认功能键之外，恐怕就一无是处了。
去除Insert，也许是一件小事。对很多用户来说，甚至永远无法体会其中的价值。但是，这种着眼于细微处的改革精神，却是十分值得提倡的。
百度一下"SB",GOOGLE排第一,太有意思了.
可以点开看一下;http://www.baidu.com/s?wd=SB&cl=3
同google一下SB，BAIDU排名第一，太有意思了.
估计这样挺好的，如果一个技术人员google里面搜素技术文章，然后想听听歌曲什么的，然后直接在google里面输入SB就跳到Baidu，那该有多好，嘿嘿,期待中！
www.baidu.com www.google.com
难道是这篇文章导致百度不收录我的网站？修改一下标题：通过输入Sb实现在百度google切换链接，呵呵
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在一个日本博客上发现的只需一行代码就能让IE6崩溃,代码如下:
<style>*{position:relative}</style><table><input></table>
这行代码在Firefox,Safari和Opera都能正确解析,但是在IE 6下却会引起mshtml.dll致命错误.
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http://nod32.areone.cn/
NOD32：
http://www.zolsky.com/killsoftware/sdsoft/nod32/nod32_id_2.htm
http://www.ttrar.com/article/nod32/ID.html
用户名（UserName）：TRIAL-0092656479
密 码（PassWord）：9ks94c26rr
有效期至（Expiry Date）：2013-11-01
适用版本：同时支持ESS和EAV两个版本
——————————————————————————————————————————
四、Nod32个人防火墙的原因，实践确切发现个人防火墙如果打开后出现连接成功后被屏蔽，导致连接失败，关闭办法：
1）在Nod32桌面的右下角小图标上点右键，然后，打开ESET Smart Security6->设置->网络->个人防火墙 ->(关闭)
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有效期至（Expiry Date）：2013-11-01
适用版本：同时支持ESS和EAV两个版本
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四、Nod32个人防火墙的原因，实践确切发现个人防火墙如果打开后出现连接成功后被屏蔽，导致连接失败，关闭办法：
1）在Nod32桌面的右下角小图标上点右键，然后，打开ESET Smart Security6->设置->网络->个人防火墙 ->(关闭)
电脑重起故障，一般都是由这些原因引起的（根据出现概率排序）：
1.CPU过热
此种原因导致的重起，一般重起的时间间隔比较有规律，并且在运行大型程序或游戏的时候重起比较频繁。这种比较好检测，重起现象发生后，立即进BIOS察看一下CPU的温度。如果INTEL的在70度以上，AMD的在65度以上，那就很有可能是这种原因导致的。 CPU过热基本都是散热器风扇故障、散热器风道积灰太多、散热器底座或扣具损坏引起的。
我通常是这样判断是不是由CPU过热引起重起的：找个大文件或是电影，用RAR压缩5分钟以上，不重起就不是CPU过热引起的。 这种原因导致的重起是出现概率最高也是最容易判断的。
2.电源故障
如果检测不是CPU的问题，第二个该怀疑的就是电源了。判断电源故障引起的重起就很需要经验了。电源故障引起的重起有两种情况：1.开机后很快就重起； 2.无规律重起。开机后很快就重起这种情况，替换电源就很快可以判断是不是电源故障了；无规律重起判断起来就很麻烦了，这种情况通常发生在那些采用劣质电源（尤其是那些没有听说过名字的杂牌电源）或者是设备很多的计算机上。根据我和我的同事统计，这种原因引起重起的概率仅次于CPU过热。
3.内存不完全损坏
内存不完全损坏。是指内存有个别存储单元损坏或者是其他原因引起的热不稳定。内存不完全损坏通常还会引起一些其他的现象：经常程序报错，或是经常弹出对话框说某某程序引用错误的内存地址，或是偶尔还蓝屏。内存不完全损坏可以用微软内存检测工具来检测，我很喜欢这个检测软件，它检测的结果很准，就是速度奇慢很讨厌。
4.主板故障
主板故障引起的重起是最难判断的，这种原因导致的重起往往是没有规律没有特征的。CM最讨厌这种重起（呵呵，其实只要是无故重起，没有不讨厌的）。CM通常最后再检测是不是主板引起的重起。
5.机箱按钮故障
机箱按钮如果是使用时间太长，或是其他原因造成弹性不好。也会引起重起，一般的现象是开机后就不断的重起。当然也有少数是进系统之后无规律重起的。机箱按钮故障引起的重起，一般发生在老机器或是使用杂牌机箱的机器上。
6.供电问题
供电问题是指电压不稳，或者是电力线路有问题引起的。电压不稳引起的重起，通常可以在电脑附近开盏灯，如果重起时，灯突然变暗。那就是电压问题了。当然，如果有万用表、稳压器之类的东西来辅助判断就更好了。电力线路问题引起的故障也可以在接电脑的插线板上插个台灯来判断。如果重起的时候台灯突然灭了或是突然变暗，那就是电力线路有问题了。
7.显卡过热
显卡引起重起并不多见。通常在重起前会有短暂的花屏、黑屏现象。开箱后可也看到显卡风扇有问题，或者可以摸到显卡的显存、散热片很烫手。
8.硬件冲突
硬件冲突引起的重起，通常都很不好判断，需要有很多备件来测试。 我遇到过的最离谱的硬件冲突是几片昂达865的主板同CD 2.8的CPU冲突，换其他频率的CD就好了。真是匪夷所思，居然这样的硬件冲突也会发生。
9.环境因素
环境因素引起的重起就不好说了。我仅仅遇到过一次：一个客户的电脑总是重起，什么部件都换过了，就是不行，稳压器、UPS都装了，也不行。把他的电脑搬到公司烤了一个星期，什么问题都没有。最后发现他们家旁边的楼顶上有个基站。 总之，换个地方故障就消失的，那就是环境因素引起的。
10.CPU不完全损坏或是热不稳定
这种原因引起的重起CM目前还没有遇到过，不过我有几个同事都曾经遇到过了。我还不知道这种重起特征现象。相信只有用替换法才可以判断出来
11.其他因素
比如软件问题 、主机电源线松动、中了木马等等，这些原因引起的重起并不多见。
CM才疏学浅，经验也不很丰富，如有遗漏或谬误，欢迎各位补充指正！
1.CPU过热
此种原因导致的重起，一般重起的时间间隔比较有规律，并且在运行大型程序或游戏的时候重起比较频繁。这种比较好检测，重起现象发生后，立即进BIOS察看一下CPU的温度。如果INTEL的在70度以上，AMD的在65度以上，那就很有可能是这种原因导致的。 CPU过热基本都是散热器风扇故障、散热器风道积灰太多、散热器底座或扣具损坏引起的。
我通常是这样判断是不是由CPU过热引起重起的：找个大文件或是电影，用RAR压缩5分钟以上，不重起就不是CPU过热引起的。 这种原因导致的重起是出现概率最高也是最容易判断的。
2.电源故障
如果检测不是CPU的问题，第二个该怀疑的就是电源了。判断电源故障引起的重起就很需要经验了。电源故障引起的重起有两种情况：1.开机后很快就重起； 2.无规律重起。开机后很快就重起这种情况，替换电源就很快可以判断是不是电源故障了；无规律重起判断起来就很麻烦了，这种情况通常发生在那些采用劣质电源（尤其是那些没有听说过名字的杂牌电源）或者是设备很多的计算机上。根据我和我的同事统计，这种原因引起重起的概率仅次于CPU过热。
3.内存不完全损坏
内存不完全损坏。是指内存有个别存储单元损坏或者是其他原因引起的热不稳定。内存不完全损坏通常还会引起一些其他的现象：经常程序报错，或是经常弹出对话框说某某程序引用错误的内存地址，或是偶尔还蓝屏。内存不完全损坏可以用微软内存检测工具来检测，我很喜欢这个检测软件，它检测的结果很准，就是速度奇慢很讨厌。
4.主板故障
主板故障引起的重起是最难判断的，这种原因导致的重起往往是没有规律没有特征的。CM最讨厌这种重起（呵呵，其实只要是无故重起，没有不讨厌的）。CM通常最后再检测是不是主板引起的重起。
5.机箱按钮故障
机箱按钮如果是使用时间太长，或是其他原因造成弹性不好。也会引起重起，一般的现象是开机后就不断的重起。当然也有少数是进系统之后无规律重起的。机箱按钮故障引起的重起，一般发生在老机器或是使用杂牌机箱的机器上。
6.供电问题
供电问题是指电压不稳，或者是电力线路有问题引起的。电压不稳引起的重起，通常可以在电脑附近开盏灯，如果重起时，灯突然变暗。那就是电压问题了。当然，如果有万用表、稳压器之类的东西来辅助判断就更好了。电力线路问题引起的故障也可以在接电脑的插线板上插个台灯来判断。如果重起的时候台灯突然灭了或是突然变暗，那就是电力线路有问题了。
7.显卡过热
显卡引起重起并不多见。通常在重起前会有短暂的花屏、黑屏现象。开箱后可也看到显卡风扇有问题，或者可以摸到显卡的显存、散热片很烫手。
8.硬件冲突
硬件冲突引起的重起，通常都很不好判断，需要有很多备件来测试。 我遇到过的最离谱的硬件冲突是几片昂达865的主板同CD 2.8的CPU冲突，换其他频率的CD就好了。真是匪夷所思，居然这样的硬件冲突也会发生。
9.环境因素
环境因素引起的重起就不好说了。我仅仅遇到过一次：一个客户的电脑总是重起，什么部件都换过了，就是不行，稳压器、UPS都装了，也不行。把他的电脑搬到公司烤了一个星期，什么问题都没有。最后发现他们家旁边的楼顶上有个基站。 总之，换个地方故障就消失的，那就是环境因素引起的。
10.CPU不完全损坏或是热不稳定
这种原因引起的重起CM目前还没有遇到过，不过我有几个同事都曾经遇到过了。我还不知道这种重起特征现象。相信只有用替换法才可以判断出来
11.其他因素
比如软件问题 、主机电源线松动、中了木马等等，这些原因引起的重起并不多见。
CM才疏学浅，经验也不很丰富，如有遗漏或谬误，欢迎各位补充指正！
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捷径二：技术换人脉
董路博客火吧，可董路为啥没象徐静蕾一样自己做个鲜花村的网站呢？不是不想，肯定是没技术+不愿意花钱操心去弄。
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根据SNS六度空间理论，名人的粉丝最杂，你帮名人的忙，一定有名人的粉丝帮你一把。
眼光不用太高，比董路小100号的，某行业的名人也很使用，你要是给你们家乡的县长弄个网站，保证你们家人一定受益，当然，前提是要落实清楚，Y是不是个马上双规的贪官。
捷径三：技术换市场
程序员最容易犯的错误是盲目自信地给自己的产品定义用户。
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